XRD (X-Işınları Difraktometresi)

X-ışını difraksiyonu, malzemelerin kristallografik özelliklerinin ve içerdikleri fazların belirlenmesini sağlayan hasarsız analiz yöntemidir. Toz numunelere uygulanan X-ışını difraksiyonu sonucu kristal yapısının yanısıra, tane boyutu ve tercihli yönlenme gibi özellikler belirlenebilir. Aynı zamanda, içerdiği fazlar hakkında bilgi sahibi olunmayan numunelerin analizi sonucunda elde edilen verilerin ilgili veri tabanı ile karşılaştırılması sonucu numunenin içerdiği fazlar belirlenebilir. Rietveld analizi gibi yöntemlerin kullanılmasıyla numunenin içerdiği bileşiklerin göreceli olarak miktarsal oranları belirlenebilir.

Ekipman Özellikleri

• Mikroişlemci sistemine sahip, ölçüm ve kontrol amaçlı elektronik ekipmanları ve yüksek gerilim üretecini içeren PW3040 cihaz bölmesi

• PW3050/6x gonyometre

• Gonyometreye monte edilmiş X-ışını tübü

• Gelen ve difrakte olan ışınlar için optik birimler

• Numune bölmesi

• Difrakte olan X-ışınlarının şiddetini ölçen dedektör

• Cu-Kα X-ışını tübü, Maksimum gerilim: 60 kV, Maksimum akım: 55 mA

Uygulanan Analizler

• Düz veya düzensiz yüzeye sahip numunelerin, ince filmlerin veya cam tüpte yer alan numunelerin faz analizi

• Numunelerin grup halinde kantitatif analiz yapma imkanı

• Düz veya düzensiz yüzeyli numunelerin ve cam tüplerdeki toz numunelerin kristalografi ve Rietveld analizleri

• Düz numunelerin ve düzensiz şekilli malzemelerin kalıntı gerilme analizi

• İnce tabakalarda ve kaplanan malzemelerde reflektometri analizi

• Tek kristal malzemeler üzerinde yüksek çözünürlüklü topografi analizi

• Tercihli yönlenmeye sahip malzemelerin doku (texture) analizi

• Homojen olmayan numunelerde küçük alanlarda analiz yapma imkanı

• İnce filmlerde düzlem içi difraksiyon

• Folyolar arasındaki numunelerde geçiş ölçümü

• Değişen çevresel şartların kristal yapıda yarattığı değişimin analizi

• Çok sayıda numunenin otomatik analizi için yüksek hızda X-ışını difraksiyonu